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簡要描述：半導體快速溫變檢測設(shè)備就是把高低溫度通過控制器設(shè)定它們的升降溫加速從而有規(guī)律的去給工業(yè)產(chǎn)品做溫度循環(huán)應力篩選試驗。
產(chǎn)品型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家更新時間：2024-03-15訪 問 量：1534半導體快速溫變檢測設(shè)備是各式各樣的產(chǎn)品在設(shè)計強度極限下，運用人工模擬環(huán)境溫度加速技巧(在上、下限極值溫度內(nèi)進行循環(huán)時，產(chǎn)品產(chǎn)生交替膨脹和收縮)改變外在環(huán)境應力，使產(chǎn)品中產(chǎn)生熱應力和應變，透過加速應力來使?jié)摯嬗诋a(chǎn)品的瑕疵浮現(xiàn)[潛在零件材料瑕疵、制程瑕疵、工藝瑕疵]，以避免該產(chǎn)品批量于使用過程中，受到環(huán)境應力的考驗時而導致失效，造成不必要的重大損失，對于提高產(chǎn)品出貨良率與降低返修次數(shù)有顯著的效果，另外應力篩選本身是一種制程階段的過程，而不是一種可靠度試驗，所以應力篩選是100%對產(chǎn)品進行的程序。
半導體快速溫變檢測設(shè)備的技術(shù)參數(shù)：
快速溫度試驗箱型號 | LQ-KS-80 | LQ-KS-150 | LQ-KS-225 | LQ-KS-408 | LQ-KS-800 | ||
標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 225 | 408 | 800 | ||
性能 | 溫度范圍 | -70℃~+150℃ | |||||
溫度波動度 | 1℃ | ||||||
溫度偏差 | ±2.0℃ | ||||||
濕度范圍 | 20~98%RH | ||||||
濕度偏差 | ±3.0%RH(>75%RH),±5.0%RH（≤75%RH） | ||||||
溫度變化速率 | 1/3/5/8/10/15min | ||||||
溫度變化速率范圍 | -55℃~+70℃ | ||||||
工作室尺寸（cm）W*D*H | 40*40*50 | 50*50*60 | 75*60*50 | 60*80*85 | 80*10*100 | ||
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果。
環(huán)保型制冷劑 –確保設(shè)備更加符合您的環(huán)境保護要求。
多種可選功能（測試孔、記錄儀、凈水系統(tǒng)等）保證了用戶多種功能和測試的需要。
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