溫度沖擊老化實驗測試箱提供溫度瞬間變化環(huán)境，供用戶對整機（或部件）、電器、儀器、材料等作溫度試驗，以便考核試品的適應性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u價。暴露產(chǎn)品的缺陷，是新產(chǎn)品研制、樣機試驗、產(chǎn)品合格鑒定試驗全過程不可少的重要試驗手段。

溫度沖擊老化實驗測試箱分為高溫室、低溫室、測試室三部分,采之斷熱結(jié)構(gòu)及蓄熱蓄冷效果,試驗時待測物*靜止，應用冷熱風路切換方式將冷、熱溫度導入測試區(qū)實現(xiàn)冷熱沖擊測試目的。

可選擇的容積有如下：

50L內(nèi)箱尺寸為360x350x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

80L內(nèi)箱尺寸為500x400x400(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

150L內(nèi)箱尺寸為600x500x500(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

250L內(nèi)箱尺寸為700x600x600(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

512L內(nèi)箱尺寸為800x800x800(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

1000L內(nèi)箱尺寸為1000x1000x1000(WxHxD)MM外尺寸以實物尺寸為準。

滿足以下標準：

GB/T2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分試驗方法 試驗A：低溫。

GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B: 高溫。

GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件。

GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術(shù)條件。

GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術(shù)條件。

GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 總則。

GB/T5170.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 溫度試驗設(shè)備。

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 高低溫試驗導則。

GB/T2423.22-1989溫度變化試驗。

GB/T 2423.22-2002溫度變化。

GB/T 2424.13-2002試驗方法溫度變化試驗導則。

GJB150.3A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法第3部分高溫試驗。

GJB 150.4A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗。

GJB 150.5A-2009 裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗。

GJB367.2-1987 通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法。

GJB360.7-87溫度沖擊試驗。

GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗。

IEC68-2-14_試驗方法N_溫度變化。

EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。

QC/T 17-1992 汽車零部件耐候性試驗一般規(guī)則 汽車行業(yè)標標準等等包括其它產(chǎn)品行業(yè)標準。