可程式電子產(chǎn)品冷熱沖擊箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)的測試設(shè)備，用于測試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

可程式電子產(chǎn)品冷熱沖擊箱滿足標(biāo)準(zhǔn)

1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法；2、GB/T2423.2-2001；3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N；4. 標(biāo)GJB150.3-86；5. 標(biāo)GJB150.4-86；6. 標(biāo)GJB150.5-86；7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；9、GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)；10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式；11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式；12、滿足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化；10、GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則；11、GB/T 2423.22-2002溫度變化；12、QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則；13、EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評估。